Skip to Content
Toggle navigation
Sprache wechseln
Deutsch
Sprache wechseln
Deutsch
English
Español
Français
Italiano
Português do Brasil
中文
Anmeldung
Hyrax
Startseite
Impressum
Hilfe
Kontakt
Suche Hyrax
Suchen
Advanced Search
Chicago
Wiedle, River Alan.
2013.
Thermal Conductivity Measurements of Amorphous Thin Films On Silicon Via the 3ω Method.
: Oregon State University.